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6.バウンダリ・スキャン・タイミング
レース・フリー動作を実現するために、データは、特定のクロック・エッヂで変化する。TMSおよびTDI入力は、TCKの立ち上がりエッヂでクロック・インされ、TCKの立ち下がりエッヂでTDOの変化が生じる。EXTEST命令を実行すると、BSRからTCKの立ち下がりエッヂでパッドに、パラレル・データが出力される。TCKの許容最大周波数に注意を要する。
図8
に命令スキャン動作のタイミング波形を示す。TAPCを順次状態遷移させるためのTMSの使用法を図解する。テスト・ホスト(またはBSM)は、TCKの立ち下がりエッヂでデータを変更し、立ち上がりエッヂでDUTが取り込む。

図8
命令スキャン動作のタイミング図
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更新日:'97/11/08 M.tanaka