ＢＳＣはシフト用ＦＦとして、２ビットのものや３ビットのものなどがあり、メーカによりシフトデータのビット列の意味が異なる。２ビットのものは、ＥＸＴＥＳＴの場合、ＢＳＲを通してそれぞれが特定のピンに配置されるまで、ピンごとに２ビットのデータをシフトすることによって判断される（１ビットは出力値、もう１ビットはスリー・ステート値）。

ＢＳＣにより、Ｉ／Ｏは通常モードあるいはテストモードの何れかで機能する。通常モードでは、出力バッファが内部論理ブロックから信号を受け取り、パッドで出力を行う、あるいは入力バッファがパッドからの入力を内部論理ブロックに入力する。テストモードでは、ＢＳＣは、ＢＳＲ内のアップストリームＢＳＣからスキャン・データのシフト、パッドへのテスト出力の更新、パッドでのテスト・データの取り込みなどのバウンダリ・スキャン動作を実行する。

ＴＡＰＣ信号（capture,update,shiftn,treset,TCK）およびMODE信号は、ＢＳＣの動作をコントロールする。双方向データセルも方向コントロールセルが生成したＨＯＬＩ（High Out/Low In）信号によってコントロールされる。ＨＯＬＩがLowのとき、双方向データセルは、ＢＳＣ内に入力バッファのデータを受け取る。ＨＩＬＯがHighのときは、ＢＳＣは内部論理ブロックからのファンクション・データをロードする。

MODE信号は、命令レジスタのデコードで生成される。MODE信号がHigh（ＥＸＴＥＳＴ）のときは、スキャン・データは出力バッファに出力される。MODE信号がLow（ＢＹＰＡＳＳまたはＳＡＭＰＬＥ）のときは、内部論理ブロックからのファンクション・データは出力バッファに出力される。

バウンダリ・スキャン記述言語（ＢＳＤＬ：Boundary Scan Discription Language）は、各種ツールで用意されている。ＢＳＤＬはデバイス・プロフィール、ピン配置、その他のバウンダリ・スキャン情報で生成される。

図６　バウンダリ・スキャン・セル（２ビット構成）の例

図７　バウンダリ・スキャン・セルの最小単位の例