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3.バウンダリ・スキャン回路

バウンダリ・スキャン回路には、テスト・アクセス・ポート・コントローラ(TAPC)、命令レジスタ(IR)、バウンダリ・スキャン・レジスタ(BSR)、およびバイパス・レジスタを持っている。メーカ独自の定義命令を持つものもある。

 

図4はバウンダリ・スキャン回路の機能図である。テスト・データ・イン(TDI)にはシリアル・データを入力する。テスト・モード・セレクト(TMS)はバウンダリ・スキャン用のテスト・アクセス・ポート・コントローラ(TAPC)を制御する。テスト・クロック(TCK)はボード上のテスト・クロックである。

BSRは、ICの周囲の各バウンダリ・スキャン・セル(BSC)を直列に接続したものである。

32ビットのバウンダリ・スキャン識別レジスタには、製造者ID番号、固有の部品番号とバージョンが入る。持たないデバイスもある。

 

図4 バウンダリ・スキャン回路

 


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 更新日:'97/11/08 M.tanaka


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