バウンダリ・スキャン回路は、３つの必須ＩＥＥＥ１１４９．１テストに対応している必要がある。ＥＸＴＥＳＴ、ＳＡＭＰＬＥ、ＢＹＰＡＳＳの３命令である。

外部テスト（ＥＸＴＥＳＴ）命令により、システムのＩＣ間の相互接続が未接続か短絡故障かをテストすることができる。ＥＸＴＥＳＴが図１に示されるシステムで実行されると、あるデバイスから指定ネットに値をドライブし、同じ値が他のデバイスから見られるかどうかを判断することによりＵ１とＵ２間の接続（ネットａ，ｂおよびｃ）をテストすることができる。これは、ＢＳＲ（Boundary Scan Register）を通してそれぞれが特定のピンに配置されるまで、ピンごとのデータをシフトすることによって判断される。その後、スリーステート信号の値に基づき、Ｉ／ＯパッドがＢＳＲの当該ビットの値を出力するか、Ｉ／Ｏパッドからの入力値でＢＳＲの当該ビットの値が更新されるか、の何れかが行われ、その値がＴＤＯからシフトアウトされる。

通常の動作中に、Ｉ／Ｏでデータを観測できるようにすることによって、ＳＡＭＰＬＥ命令は、システムのデバッグおよび故障診断に役立つ。全Ｉ／Ｏデータは、ＴＤＯからテスト・ホストにシフトアウトできるようにして、同時にＢＳＲ内に取り込まれる。各Ｉ／Ｏバッファは双方向なので、Ｉ／Ｏパッドの値やスリーステート・コントロール信号の値などのデータがそれぞれのＩ／Ｏパッドごとに取り込まれる。

ＢＹＰＡＳＳ命令は、ＴＤＩで受け取ったテスト・データは、バイパス・レジスタからＴＤＯにシフトアウトさる。シフトアウトされたデータは次のデバイスのＴＤＩに送られる。

デバイスがテスト操作に属していない場合、ＢＳＲがバイパスされるので、テストのスループットが向上する。