バウンダリスキャンはテスト方式の一つで、テスト中のアクセスコントロールあるいは観測のために、ＩＣバウンダリ上のレジスタのリングを使用するものである。フルスキャンの場合は、デバイスの全ての入出力をテストすることができる。

ＩＥＥＥ１１４９．１スタンダードは、次のようなテスト論理、データレジスタ、バイパスレジスタ、インストラクションレジスタ、テストアクセスポート（ＴＡＰ）を定めている。ＴＡＰコントローラは同期コントロール信号で制御され、これらの信号は４線のテストポート経由で入力される。ＴＡＰコントローラはチップ内にＩＥＥＥ１１４９．１テスト構造のためのコントロール信号を発生する。

バウンダリ・スキャン・セルは、バウンダリ・スキャン・データ・レジスタ（ＢＳＲ）を形成する一連のものとして接続される。ＢＳＲはＪＴＡＧ ＴＡＰを除き、クロックバッファを含む全てのＩ／Ｏパッドをカバーする。４線ＴＡＰはテストクロック（ＴＣＫ）、テストモードセレクタ（ＴＭＳ）、テストデータイン（ＴＤＩ）、テストデータアウト（ＴＤＯ）から成っている。非同期テストリセット（ＴＲＳＴ）はＩＥＥＥスタンダード１１４９．１-１９９０にオプションで規定されている。ＴＲＳＴによりＴＡＰコントローラはテスト論理・リセット状態にリセットされ、ＴＤＯはスリーステート状態になる。

デバイスＩＤレジスタは３２ビットのレジスタで、４ビットのバージョンフィールド、１６ビットのパーツ番号フィールド、１１ビットの製造者ＪＥＤＥＣコードから成っている。

１ビットのバイパスレジスタは、プリント基板上のテスト中デバイスにアクセスするための、デバイスを通した最短のシリアルパスを提供し、テストに無関係のデバイスのＢＳＲをバイパスする。

インストラクションレジスタは、ＥＸＴＥＳＴ、ＳＡＭＰＬＥ、ＢＹＰＡＳＳの３つの必須命令のほか、メーカ、デバイスごとにオプションコマンドをデコードする。

・ＥＸＴＥＳＴはＢＳＲから、ある程度デバイス外部に至るまでの回路テストに使われ、ボンディングワイヤ、ターミナル、２つのバウンダリスキャン・デバイス間の接続も含む回路のボードトレースを行う。ＥＸＴＥＳＴの実行中は、全てのＩ／ＯピンはＢＳＤＲに接続され、内部論理ブロックは分離されている。

・ＳＡＭＰＬＥは通常の操作中に特定の時間のデバイス入出力ベクタのサンプルや特定時間のデータを入手するために使われる。サンプルはＢＳＲ内に捕捉され、検査のためにＴＤＯを通してシリアルにシフトアウトされる。

・ＢＹＰＡＳＳはデバイスのＴＤＩとＴＤＯラインの間に１ビットのバイパスレジスタを配置し、ＢＳＤＲをバイパスする。ＢＹＰＡＳＳインストラクションは機能テストのためにバイパスされたデバイスのＴＤＯ出力に、ＴＤＩ入力が接続されたデバイスにアクセスするのに使われる。