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ＪＴＡＧ
最近の半導体デバイスのデータブックや関連雑誌のあちこちに“バウンダリスキャン”、“JTAG”、“IEEE1149.1“などの文字を見かけることが多くなった。
展示会においても同様で、９６年１１月に東京池袋サンシャインシティ文化会館で開催されたMST’96（マイコンシステム＆ツールフェァ）では、バウンダリスキャンテスト装置やバウンダリスキャンを用いたＩＣＥなどが登場していた。また、９７年６月の
FPGA／CPLDカンファレンスでも、バウンダリスキャンやJTAGという言葉が会場内を飛び交っていた。ここでは、急速に利用が広まりつつあるJTAGテスト手法の概要について説明する。
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言葉の意味
(Complex Programmable Logic Device)：複雑な構造のPLD。PLD
(Programmable Logic Device)：論理を手元でプログラムできるセミカスタムLSI。PLAともいう。FPGA(Field Programmable Gate Array)：大規模PLD.
PLA
(Programmable Logic Array)：論理を手元でプログラムできるセミカスタムLSI。PLDともいう。このほかに、
EPLD(Erasable PLD)：消去可能なPLD。
PAL(Programmable Array Logic)：米MMI(Monolithic Memories社,現Advanced Micro Devices社)が開発したPLD製品の名称。
などがある。
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ASIC設計の分野でごく一般的に使用される言葉に“スキャンテスト”がある。設計したASICの動作を効率よくテストするために、専用に配置したテスト用パスのことである。“バウンダリスキャンテスト”は、テスト容易化設計という意味において、スキャンテストと似ているが、IC内部の動作テストやプリント基板実装後のボードテストのための、まったく新しいテスト手法として登場してきた。バウンダリとは、ICのピンと内部のシリコンチップとの接続点（境界）を意味しているようである。
バウンダリスキャンテストは、1985年にヨーロッパで最初に提案された。そして、1986年に北米からのメンバが加わり、1990年に規格化されたのがIEEE std 1149.1-1990 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architectureである（
表１）。この規格は、正式名称よりも、その作業メンバーの名称であるJTAG（Joint Test Action Group）が、規格名称であるかのように使われて普及し始めている。画像圧縮の規格として知られている“MPEG”（Moving Picture Experts Group）や“JPEG”（Joint Photographic Experts Group）などと同様である。そのため、本文においても、JTAGがバウンダリスキャンテストやIEEE1149.1規格を指しているものとして、使用することにした。
| 1985年 |
欧州企業数社（Philips，British Telなど）がJETAG（Joint European Test Action Group）を結成 |
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1986年 |
米国企業（Hewlett-Packard など）が加わりＪTAG（Joint Test Action Group）を結成 |
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1988年 |
JTAG Rev2.0として「IEEE Testability Bus Committee（P1149）」へ提案 |
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1989年 |
IEEE1149.1「Test Access Port and Boundary Scan Architecture」の無記名投票 |
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1990年 |
IEEE Standard1149.1-1990規格「IEEE Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture」制定 |
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1996年 |
IEEE P1149.4 ワーキンググループ「Standard for a Mixed-Signal Test Bus」規格審議継続 |
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更新日：'99/01/24 M.tanaka